边界扫描测试：什么是它？
边界扫描测试（Boundary-Scan Testing）是一种用于测试集成电路内部逻辑功能或器件之间连接结构的方法。它分为内部测试（INTEST）和外部测试（EXTEST）。INTEST用于测试器件内部逻辑功能，而EXTEST用于测试器件之间连接结构。
IEEE Std 1149.1 结构解析
IEEE Std 1149.1 结构包含指令寄存器、测试访问端口（TAP）、旁路寄存器、身份识别寄存器、边界扫描寄存器等组件。其中，指令寄存器用于保存当前指令，TAP用于控制测试流程，边界扫描寄存器用于存储测试数据。
指令寄存器详解
指令寄存器具有Shift、Hold和Capture功能。Shift功能用于将指令从TDI移入寄存器，Hold功能用于保持当前指令，Capture功能用于载入一个硬编码值或当前指令值。
测试访问端口（TAP）控制器状态机
TAP控制器状态机通过TCK（测试时钟）和TMS（测试模式选择）信号进行控制。状态转换发生在TCK上升沿，输出值在TCK下降沿变化。
边界扫描单元类型
边界扫描单元主要有BC_4、BC_1、BC_2、BC_7等类型。BC_4类型单元用于输入信号，BC_1类型单元用于输入和输出信号，BC_2类型单元用于捕获输入端口值，BC_7类型单元用于双向端口。
测试向量生成
测试向量生成是边界扫描测试的关键步骤。一般需要生成5种独立的测试向量集，包括边界扫描逻辑复位机制测试向量、TAP控制器转变测试向量、指令和tdr向量、边界扫描寄存器测试向量和漏电失效测试向量。
总结
边界扫描测试是一种强大的集成电路测试方法，能够有效地检测器件内部逻辑功能和器件之间连接结构的问题。
拓展
除了边界扫描测试，还有其他一些集成电路测试方法，如功能测试、结构测试、故障模拟等。
我是苏承栈，来自极星编程网（www.jxgpc.com）
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